本帖最后由 casjxm 于 2025-11-23 18:07 编辑
CW与TOF是两种不同的数据类型，如果找不到TOF数据与SA方法一起的模版，应该就要自己改了，可以结合fullprof的examples里面SA的模版与TOF的模版（如Arg_si， Cecoal和Cecua1）。主要的问题是CW和TOF的精修参数有比较大的区别，这里是deepseek描述的区别，可以参考一下，希望对你解决问题有帮助：
下表清晰地对比了它们在关键参数设置上的主要区别。
| | | | 以角度（度, °）为单位，例如 5.0 120.0 | 以微秒（μs）或其他时间单位为单位，范围由实验装置决定 | | | | | 常用Caglioti公式（如PV, pV）描述峰宽随角度的变化，参数包括U, V, W | 使用复杂的经验函数（如 e.g. E-TCH Voigtian），峰形与时间（d-间距）关系复杂，参数常为σ², α, β 等 | | | 通过Sig-1, Sig-2, ... 和 Gam-1, Gam-2, ... 等参数在分辨率文件中定义 | | 常用余弦傅里叶级数（COD背景函数）或多项式，参数如 Bkground 1-12 | 常用带偏移的指数衰减函数（ECB背景函数）或多项式，参数如 Bkground 1-12 |
在使用FullProf Suite解析磁结构时，根据中子衍射数据是来自角分辨（2θ）仪器还是飞行时间（TOF）仪器，参数设置上有重要区别。这两种数据类型的本质差异直接影响了您在FullProf中需要定义和精修的参数。 下表清晰地对比了它们在关键参数设置上的主要区别。 上表中的区别主要源于两种测量原理的根本差异：
- 2θ数据 基于布拉格条件，衍射峰的位置和形状强烈依赖于几何角度。因此，仪器零点（Zero）和描述角度依赖峰宽的Caglioti参数（U, V, W）是精修的关键。其背景主要来自非相干散射等，通常用周期性的余弦函数拟合效果较好
。
- TOF数据 基于中子从源到探测器的飞行时间，峰位与d-间距直接相关，峰形由中子脉冲宽度和仪器分辨率决定。因此，峰形由一系列描述高斯（Sig-i）和洛伦兹（Gam-i）分量随d-间距变化的参数控制，这些参数通常预先测定并存储在分辨率文件中，精修时应主要调整尺度因子而非参数本身。其背景通常更复杂，随飞行时间衰减，故常用ECB等函数
。 操作实践建议 在实际操作中，除了理解参数含义，以下实践建议能帮助您更好地完成精修：
- 初始值设置：对于Zero、U/V/W或Sig-i/Gam-i的尺度因子等参数，应先用已知的标准样品进行标定和精修，获得准确的仪器参数，再用于待测样品的精修。背景函数的系数可从粗略的线性估计开始。
- 精修策略：务必采取逐步引入的策略。先只精修尺度因子、峰位参数（如Zero）和样品整体参数，固定峰形和背景。待模型收敛后，再逐步放开峰形参数（如U/V/W）和背景参数进行精修，并密切关注各参数的相关性，避免过度参数化。
- 结果判据：精修的最终目标是获得合理且稳定的晶体与磁结构模型，同时拟合优度因子（如Rp, Rwp, GoF）显著降低。要确保精修后的原子参数（坐标、占位、温度因子）和磁矩物理合理，没有不正常的数值。
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发表于 2025-11-23 17:05:40
