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案例来源：Chin. J. Inorg. Chem. 2024, 40, 1261–1269. DOI[1]: 10.11862/cjic.20240076. | 请参考本刊已发表文章补充“晶体结构测试”内容，按照单晶样品的培养、制备、选择、使用仪器型号名称、数据收集所用靶及其波长和程序、数据还原所用程序、初结构解析所用程序和方法、结构精修所用程序和方法、解析中非氢原子和H原子的确定及精修等等加以扼要描述，同时还要给出上述过程中所涉及的参考文献。 |
| “1.5晶体结构测试”这一段描述有好多谬误，请找一位懂晶体学的老师帮助改写这一段。 |
原文： 1.5晶体结构测试 选取大小合适的晶体密封于单晶玻璃管中，在Bruker D8 VENTURE单晶衍射仪上，采用石墨单色化的Mo Kα射线(λ = 0.71073 Å)，于T = 293(2) K，作为X射线光源采集X射线衍射图片，以j和w扫描技术收集数据。使用SMART程序包[27]确定晶系和晶胞参数，用直接法对结构进行解析，采用最小二乘法精修，对所有非氢原子进行各向异性精修，所有氢原子均为理论加氢。晶体结构用SHELXTL和OLEX2程序包进行解析计算[28,29]。 此文晶体数据是笔者处理的，文章返修意见回来后找笔者改写这一段，笔者改写如下（笔者水平有限，不当或错误之处，请不吝指教）： 1.5晶体结构测试 选取大小合适的晶体密封于充满氩气的毛细管中作为待测样品。3-Ti在Bruker SMART APEX II单晶衍射仪上于293.15(10) K温度下，以石墨单色化的波长为0.71073埃的钼靶材密封X射线光管作为辐射光源，以j和w扫描方法采集衍射图像。3-Zr和3-Hf均在Bruker D8 Venture单晶衍射仪上于296.15(10) K温度下，以石墨单色化的波长为0.71073埃的钼靶材密封X射线光管作为辐射光源，以j和w扫描方法采集衍射图像。采用集成于APEX4软件[1]中的（1）SMART程序[2]确定晶系和晶胞参数；（2）SAINT程序[3]执行对衍射图像进行积分；（3）TWINABS程序[4]对洛伦兹和偏振因子以及晶体衰变效应的所有数据进行校正——由于所测晶体为孪晶，因此对数据执行了孪晶拆分处理。由集成于Olex2软件[5]中的（1）SHELXT程序[6]采用本征定相法求解初始结构模型；（2）SHELXL程序[7]基于结构因子的平方采用最小二乘法对所有非氢原子的各向异性位移参数进行精修。所有氢原子置于几何计算位置并采用骑式模型进行精修。 [1] Bruker (2021). APEX4(Version 2021.4-1). Program for DataCollection on Area Detectors. Bruker AXS Inc., Madison, Wisconsin, USA. [2] Bruker (2015). SMART(Version 4.21), Program for DataCollection. Bruker AXS Inc., Madison, Wisconsin, USA. [3] Bruker (2016). SAINT(Version 8.40B), Program for DataExtraction and Reduction. Bruker AXS Inc., Madison, Wisconsin, USA. [4] Bruker (2012). TWINABS-2012/2.Program for Empirical AbsorptionCorrection of Area Detector Frames. Bruker AXS Inc., Madison, Wisconsin,USA. [5] Dolomanov, O. V.; Bourhis, L. J.; Gildea, R. J.;Howard, J. A. K.; Puschmann, H. OLEX2: Acomplete structure solution, refinement and analysis program. J. Appl. Cryst.2009, 42, 339–341. [6] Sheldrick, G. M. SHELXT– Integrated space-group and crystal structure determination. Acta Cryst. 2015, A71, 3–8. [7] (a) Sheldrick, G. M. SHELXL-2019/3, Program forCrystal Structure Refinement, University of Göttingen, Germany, 2019. (b)Sheldrick, G. M. A short history of SHELX.Acta Cryst. 2008, A64, 112–122. (c)Sheldrick, G. M. Crystal structure refinement with SHELXL. Acta Cryst. 2015, C71, 3–8. (d) Lübben, J.; Wandtke, C. M.; Hübschle, C. B.; Ruf, M.;Sheldrick, G. M.; Dittrich, B. Aspherical scattering factors for SHELXL – model, implementation andapplication. Acta Cryst. 2019, A75, 50–62. 注：在《晶体学报》期刊中，软件和程序的名称以斜体表示，如Olex2要写成Olex2。但对于其他期刊，需要查看期刊要求。 相关视频： 晶体数据审稿意见-晶体测试描述：https://www.bilibili.com/video/BV1df421v7Uv | 声明：本文仅代表个人观点，笔者学识有限，资料整理过程中可能存在疏漏错误，请不吝指正。 |
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