单晶衍射仪系列19-如何获得仪器参数

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单晶衍射仪为了测试晶体结构，甚至电子结构，对其各个主要部件的运行精度要求是非常高的。实际的仪器部件不可避免存在误差，对于系统误差，我们需要建立相应的误差模型，然后通过标准样品进行测试，使用测试出的衍射数据对误差模型进行最小二乘精修，即可获得各主要部件的系统误差参数。

各个主要部件的仪器参数的数学原理如下，据此可编写代码：
导数矩阵：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=777&extra=
取向矩阵：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=778&extra=
测角仪旋转矩阵分解：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=804&extra=
测角仪旋转的四元数表示：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=805&extra=
测角仪旋转的Cayley-Klein表示：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=806&extra=
主光束方向与测角仪主轴角度配置：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=807&extra=
衍射条件：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=808&extra=
平面探测器：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=809&extra=
仪器参数最小二乘残差：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=810&extra=
总仪器参数模型：https://www.matstr.com/forum.php?mod=viewthread&tid=811&extra=

参考文献：W. A. Paciorek, M. Meyer and G. Chapuis，On the geometry of a modern imaging diffractometer，Acta Cryst. (1999). A55, 543–557