晶体数据审稿意见-软件和吸收校正信息不应缺失

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晶体数据审稿意见-软件和吸收校正信息不应缺失

文本所用软件/程序

GUI: Olex2[1]    Refinement: SHELXL[2]

案例来源：Nat. Chem. 2024, DOI: 10.1038/s41557-024-01555-4.

审稿意见	大意
Several cifs are missing information on  software used or absorption details, Please include these fields _exptl_absorpt_process_details,  (e.g. computing cell refinement, computing data collection. computing data  reduction)	一些CIF缺失所用软件信息或吸收校正细节信息，请将吸收校正信息包含在_exptl_absorpt_process_details中，以及晶胞精修、数据收集、数据还原等所用软件信息。

上述审稿意见主要是说CIF中缺失部分信息，这些缺失的信息主要包括软件信息和吸收校正信息。

例如化合物3中，最大最小透射因子“_exptl_absorpt_correction_T_max”“_exptl_absorpt_correction_T_min”和吸收校正类型“_exptl_absorpt_correction_type”等信息都有，但是吸收校正细节“_exptl_absorpt_process_details”缺失，如图1所示。

▲图1 缺失吸收校正细节信息

而有关软件的信息也缺失，如图2所示。

▲图2 缺失软件信息

后经修正，完整的吸收校正信息如图3所示。

▲图3 完整的吸收校正信息

而软件部分的完整信息如图4所示。

▲图4 完整的软件信息

其他几个数据也是差不多的情况，均进行了相应的修正，吸收校正信息可以用Olex2从abs文件中读取，参阅推文“Olex2读取abs文件”，软件信息则可以用Olex2从_ls文件中读取，参阅推文“Olex2读取_ls文件”。对于其他单晶仪的数据，也可以用Olex2从相应文件中读取，如“Olex2读取cif_od文件”“Olex2读取cfx_LANA文件”等。

视频演示操作请参阅：

晶体数据审稿意见-软件和吸收校正信息不应缺失：https://www.bilibili.com/video/BV1Gx4y187YF

结语

其实本文类似的审稿意见就不应该出现，能出现此类审稿意见，表明数据的处理和完善非常粗糙，另外就是相关的文件一定要保存好，尤其是在测试机构测得的数据，结构不见得会给完整文件，这就需要自己及时索要相关文件了。

参考文献

[1] Dolomanov, O.  V.; Bourhis, L. J.; Gildea, R. J.; Howard, J. A. K.; Puschmann, H. OLEX2: A Complete Structure Solution,  Refinement and Analysis Program. J. Appl. Cryst. 2009, 42, 339–341. DOI: 10.1107/S0021889808042726.    [2] (a)  Sheldrick, G. M. SHELXL-2019/3, Program for Crystal Structure Refinement,  University of Göttingen, Germany, 2019. (b)  Sheldrick, G. M. A Short History of SHELX.  Acta Cryst. 2008, A64, 112–122. DOI: 10.1107/S0108767307043930. (c) Sheldrick, G. M. Crystal Structure  Refinement with SHELXL. Acta Cryst. 2015, C71, 3–8. DOI: 10.1107/S2053229614024218. (d) Lübben, J.; Wandtke, C. M.; Hübschle,  C. B.; Ruf, M.; Sheldrick, G. M.; Dittrich, B. Aspherical scattering factors  for SHELXL – model, implementation and  application. Acta Cryst. 2019, A75, 50–62. DOI:  10.1107/S2053273318013840.

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