X射线吸收精细结构(XAFS)是一种基于同步辐射X射线的先进实验技术,通过测量X射线在样品中的吸收变化,尤其是吸收边附近的精细结构,提供原子级别的局域结构和电子结构信息。它对特定元素具有高度选择性,能在复杂体系中精准分析目标元素的结构信息,且适用于固体、液体、粉末和薄膜等多种样品状态,对样品的结晶度要求低,非晶态样品也能有效分析。XAFS能够提供丰富的局域结构信息,如原子间距离、配位数和配位环境等,为理解材料的物理化学性质和反应机制提供关键数据。凭借这些优势,XAFS在材料科学、化学与催化、环境科学和生物医学等领域广泛应用,能够揭示材料的微观结构与性能关系,分析催化剂的活性中心,检测环境污染物的形态与价态,以及研究生物大分子中的金属离子配位结构,已成为现代科学研究中不可或缺的重要工具。 XAFS可以进一步细分为两个主要部分: 1. X射线吸收近边结构(X-ray Absorption Near-Edge Structure,XANES):XANES是指吸收边前10eV到吸收边后30-50eV的区域。这部分光谱主要反映了吸收原子的电子结构和化学环境,能够提供关于价态、电子结构和对称性的信息。 2. 扩展X射线吸收精细结构(Extended X-ray Absorption Fine Structure,EXAFS):EXAFS是指从吸收边后50eV开始,一直到1000eV范围内的区域。这部分光谱主要用于分析吸收原子周围原子的局域结构,包括键长、配位数和无序度等信息。 EXAFS分析是X射线吸收光谱学中常见的数据解析方法之一。EXAFS可以看作是中心原子的内层电子吸收X射线后跃迁到外层,形成光电子。这些光电子以波的形式发射出去,并与周围原子发生散射。散射波与入射波相互干涉,形成了我们在吸收光谱中观察到的振荡特征。通过对EXAFS数据进行处理,可以从中提取结构信息。首先,将E空间中的振荡信号转换为波长k空间的振荡信号。通过傅里叶变换将k空间的数据进一步转换为R空间的数据。 R空间数据以原子间距离为坐标,能够直观地反映出吸收原子周围原子的分布情况,从而提供键长、配位数等结构信息。此外,R空间数据还可以通过逆傅里叶变换还原为q空间数据,用于进一步分析。 同步辐射中R空间的物理意义: 1. R空间峰X轴位置+(0.3~0.5) Å=Table实际键长。比如1.5 Å+(0.3~0.5)Å = (1.8~2.0)Å,与拟合值1.92 Å符合。 2. R空间峰对应的Y轴强度正相关于Table配位数。比如CoN2、CoN3、CoN4依次增强。 3. 5个原子序数内元素不可区分。比如(6C、7N、8O不可区分)、(15P、16S、17Cl不可区分)。常见键长M-C/N/O在1.8-2.1 Å之间,M-P/S/Cl在2.0-2.3 Å之间;拟合出来的键长要与高水平文献相符合。
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